洞见微毫：道青科技精密X射线检测系统的成像解析力与技术原理

在高端工业无损检测（NDT）领域，成像精度是判定设备性能的核心指标，直接决定了对微小缺陷的检出能力。道青科技精密X射线检测系统，突破了传统检测的视觉极限，将工业“透视眼”的解析度提升至微米级。

系统的核心优势在于对“几何不清晰度”的极致控制。道青科技采用高性能微焦点射线源，通过显著缩小焦点尺寸，最大程度抑制了半影效应。这意味着即便在高达几十倍的几何放大倍率下，系统依然能保持边缘锐利的成像效果，有效解决传统大焦点设备在放大成像时出现的模糊与虚影问题。

在图像采集端，我们配备了高动态范围的非晶硅平板探测器。该探测器拥有极高的空间分辨率（lp/mm）和宽广的灰度等级，能够敏锐捕捉穿透物体后的微弱辐射差异。无论是铝合金压铸件内部极微小的气孔、缩松，还是电子元器件中的金线断裂、虚焊，均能在高对比度图像中无所遁形。

道青科技精密X射线检测系统，以严苛的光学物理设计为基础，实现了从“看得见”到“看得清”的质变，为航空航天、汽车零部件及电子半导体行业提供了可信赖的零缺陷质量保障。

Tel：0512-67508551