X射线无损探伤设备选购指南（二）--平板探测器

平板探测器作为无损探伤设备重要零部件之一，了解其功能和工作原理对于我们合理的选择探伤设备有着极其重要的指导意义；

平板探测器是将射线机发射穿透工件后X射线生成的图像信号转换成可存储和处理的数字图像（图像符合行业标准）；相较与胶片和线阵扫描探测器，平板探测器具有透照时间短、能量损耗低、操作便捷、图像清晰、成本低等优点。

   根据能量转换类型，探测器可分为“间接能量转换型”和“直接能量转换型”两种：

• 间接能量转换型——非晶硅型平板探测器主要由闪烁层、矩阵板、玻璃衬底、读出线路等，其核心是由非晶硅和薄膜晶体管构成的矩阵板，矩阵板的每一个单元包含一个存储电容和非晶硅的场效应管。 

• 直接能量转换型——非晶硒型平板探测器主要就是以硒作为光导材料，原因如下1.光敏电阻自身具有高分辨率的特性。2.硒可直接将X射线能量转换为电信号，硒光电导层被X射线照射以后产生电子——空穴6KV偏移电压下被电场分离，被每个像素单元收集并转换成X线数字影像的数据。

在成像效果上非晶态硒的探测器成像效果要好于非晶态硅，图像更清晰、锐利度更好，但是非晶硒平板探测器技术尚未稳定，对使用环境有非常高的要求，并且维护成本高于非晶硅平板探测器。目前非晶硅平板探测器依然是市场主流。

    不同类型、不同尺寸的探测器其成像速度、图像质量（清晰度、灵敏度等）、图像尺寸、采购和使用成本均有差别，因此用户需要根据公司产品所在行业的国家标准及公司产品产量、生产工艺需求，选择合适自身的探伤设备配置。